Una definición de JTAG

JTAG es un estándar para probar las interconexiones entre los chips de circuitos integrados en una placa de circuito impreso. La norma no requiere contacto físico directo con los propios interconexiones. Es un método de control de calidad utilizado ampliamente en la fabricación electrónica moderna y ha hecho posible para poner a prueba las placas de circuito cada vez más miniaturizadas.

Pruebas antes de JTAG

Antes de la adopción de la norma JTAG, interconexiones de circuitos integrados tuvieron que ser probado con dispositivos que realizan las conexiones eléctricas directas con la placa de circuito en sí. Típico de estos fue el llamado probador "cama de clavos", que incluía muchas pequeñas sondas que se colocan para hacer contacto con las interconexiones impresos específicos. Como circuitos impresos se hicieron más pequeños y más complejo, sin embargo, el costo de la construcción de estos dispositivos de prueba aumentó de manera espectacular, mientras que al mismo tiempo que se hizo más difícil de usar.

Nacimiento de JTAG

En la década de 1980 la industria electrónica formó el Grupo de Grupo de Acción Conjunta (de ahí el acrónimo, JTAG) para diseñar un lenguaje estándar y arquitectura para probar circuitos integrados que utilizan una técnica llamada "de exploración de límites." escaneo de límites implica el uso de pruebas de puertos integrados en el propio circuito, a través del cual las señales se pueden pasar a ambos lados de una interconexión de chip, e incluye la comparación de los resultados. Esto permite que la inferencia de los trazados en cortocircuito o abierta entre los chips sin requerir contacto directo con las interconexiones. La arquitectura JTAG convirtió en un estándar internacional cuando fue incorporado en IEEE-1149.1 Std. en 1990.

¿Cómo funciona JTAG

La arquitectura JTAG especifica el uso de una interfaz integrada en el circuito impreso, que utiliza una conexión en serie de cuatro hilos llamado TAP, o prueba de puerto de acceso. Esta interfaz incluye un cable de datos de prueba en prueba y salida de datos, así como los cables de prueba del reloj y el modo de prueba del estado que se conectan a un controlador de TAP incluido en el circuito. El TAP permite la conexión de herramientas de exploración de límites que comparan las señales de entrada y de salida del circuito y diagnosticar los problemas de interconexión.

Aplicaciones JTAG

JTAG fue diseñado originalmente para su uso en el control de calidad durante el proceso de fabricación de circuitos impresos. Sin embargo, su amplia adopción ha hecho posible el uso de equipo de prueba JTAG para la depuración de firmware instalado, así como el ensayo de circuitos durante la fabricación de productos finales. Electrónica personal de mantenimiento y reparación también se utilizan cada vez más el equipo de prueba JTAG para diagnosticar problemas de hardware y software en las instalaciones del usuario final.